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0755-23345158
測試探針

XQY-SMAK-TTD115JZ

【產(chǎn)品名稱】測試探針

【外殼材質(zhì)】不銹鋼 鈍化

【測試類型】高頻測試

【頻率范圍】DC-8.5GHz

【外形尺寸】24.8*16*6mm

【定制服務】詳細信息請聯(lián)系我們


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